14/09/2020
Nhóm nghiên cứu của Giáo sư Kimoto thuộc Đại học Kyoto đã nghiên cứu thành công sử dụng phương pháp mới để chế tạo màng oxit, từ đó giảm đáng kể các khuyết điểm giữa ở ranh giới giữa vật liệu SiC với màng oxit SiO2. Linh kiện SiC MOSFET loại n sản xuất thử bằng phương pháp này cũng có tính năng vượt trội so với loại thông thường. Đồng thời, độ di động điện tử của SiC MOSFET cũng tăng lên 2 lần so với trước. Kết quả nghiên cứu lần này là một bước ngoặc lớn sau 20 năm của ngành bán dẫn.
Liên kết
Liên hệ
(0236) 3827111(Ext 503)
feee@duytan.edu.vn
404D, Cơ sở Hòa Khánh Nam, 120 Hoàng Minh Thảo, Đà Nẵng
Copyright 2026 © Khoa Điện - Điện Tử - Trường Công nghệ Kỹ thuật - Đại học Duy Tân. All rights reserved