Nghiên cứu Khoa học

Giới thiệu về kính hiển vi lực nguyên tử "Environment Control Unit AFM5300E"

Công ty Hitachi High – Tech (Nhật) đã nghiên cứu và phát triển thành công kính hiển vi lực nguyên tử AFM (Atomic Force Microscope) dòng AFM5300E cải thiện vượt trội độ cảm, độ chính xác, và độ phân giải của các đo đạc đặc tính từ trường khi hoạt động dưới điều kiện chân không cao. AFM là thiết bị quan sát cấu trúc vi mô bề mặt của vật rắn dựa trên nguyên tắc xác định lực tương tác nguyên tử giữa một đầu mũi dò nhọn với bề mặt của mẫu đo đạc, có độ phân giải ở cấp độ nanomet. Dòng AFM5300E của Hitachi High – Tech tạo ra sự dẫn đầu trong các dòng AFM về sự kiểm soát môi trường toàn diện và là thiết bị duy nhất trên thị trường cho phép tạo ra hình ảnh AFM trong không khí/chất lỏng/chân không, phạm vi nhiệt độ đo rộng từ - 120 đến 800 độ C, kiểm soát độ ẩm và từ trường, cũng như sự quan sát AFM/SEM/ion phay tương quan.  

Các tin khác

• Giới thiệu Contrast và Brightness trong ảnh số
• XÂY DỰNG ỨNG DỤNG GAME 2D ĐA NỀN TẢNG VỚI COCOS2D-X GAME ENGINE
• ĐIỀU KHIỂN BÀN PHÍM PS2 SỬ DỤNG FPGA
• Chương trình điều khiển máy cho ca ăn tự động
• Mã QR code